常见问题
X射线衍射检测需要多长时间？
通常7-15个工作日，具体周期视样品数量及数据解析难度而定。
X射线衍射检测费用大概多少？
根据检测项目数量确定，常规物相分析费用较低，若涉及原位测试则需额外核算附件成本。
X射线衍射检测对样品有什么要求？
粉末样品需研磨至微米级别并平整压实，块状样品需具备平整测试面且尺寸符合测角仪样品台限制。
X射线衍射能检测非晶态物质吗？
X射线衍射检测仪器
- 多晶X射线衍射仪，用于粉末和块状样品的常规物相扫描。
- 单晶X射线衍射仪，用于解析未知晶体化合物的三维空间结构。
- 高分辨X射线衍射仪，用于表征半导体外延薄膜的高质量单晶结构。
- 微区X射线衍射仪，用于微小区域或不均匀样品的局部物相分析。
- 原位高温加热台，用于模拟材料在高温环境下的相变过程。
- 原位拉伸测试附件，用于测定材料在受力过程中的晶格应变演化。
- 残余应力测定仪，用于测量金属构件表面的宏观残余应力分布。
- 织构测角仪，用于绘制多晶材料的极图和反极图以分析择优取向。
- 薄膜掠入射附件，用于增强纳米级薄膜的衍射信号并抑制基底干扰。
- X射线反射仪，用于精确测量薄膜的厚度、密度及界面粗糙度。
- 变温附件，用于研究材料在低温或变温条件下的晶格热膨胀行为。
- 真空样品台，用于防止易氧化材料在测试过程中发生化学变化。
检测信息
X射线衍射是一种利用X射线在晶体中的衍射现象来分析物质内部原子空间分布规律的技术手段，广泛应用于材料科学、化学、地质学和药学领域的物相结构与晶体学参数测定。
检测目的在于确定材料的物相组成、晶体结构及结晶状态，涉及的技术手段主要基于布拉格定律，通过测量不同角度下的衍射峰强度与位置来解析晶体学信息。
检测流程包括样品制备、仪器校准、扫描测试及数据解析，核心参数涵盖扫描角度范围、步长、管电压、管电流及衍射峰半高宽等。
X射线衍射检测项目
- 物相定性分析，用于判定样品中包含的晶体相种类及其化学式。
- 物相定量分析，用于测定混合物中各结晶相的质量分数比例。
- 晶胞参数测定，用于精确计算晶体的点阵常数和晶胞体积。
- 结晶度计算，用于评估聚合物或无机物中结晶区与非晶区的相对占比。
- 晶粒尺寸计算，利用谢乐公式推算纳米级晶体的平均晶粒大小。
- 微观应变测定，通过衍射峰宽化程度分析材料内部的晶格畸变情况。
- 残余应力测定，用于评估材料加工处理后表面或内部的宏观残余应力分布。
- 宏观织构测定，用于分析多晶材料中晶粒取向的极图和反极图分布。
- 薄膜厚度测定，通过X射线反射技术测量纳米级薄膜的厚度与密度。
- 薄膜物相分析，用于表征薄膜沉积后的晶相结构及界面扩散情况。
- 多层膜结构分析，用于解析周期性多层膜的超晶格周期厚度。
- 残余奥氏体含量测定，用于定量计算淬火钢中残留奥氏体的体积分数。
- 晶面取向分析，用于确定单晶或定向凝固材料的晶面生长方向。
- 相变温度测定，结合变温附件分析材料晶体结构随温度变化的演变规律。
- 原位高温物相分析，用于监测材料在加热过程中的相变动力学过程。
- 原位拉伸应力分析，用于研究材料在受力状态下晶格应变的实时变化。
- 非晶比例测定，用于量化非晶态合金或玻璃态物质中的结构无序度。
- 掺杂浓度分析，通过晶胞参数变化推算固溶体中的掺杂原子比例。
- 晶体缺陷分析，通过倒易点阵漫散射特征评估位错与层错密度。
- 晶界角测定，用于表征多晶材料中相邻晶粒间的取向差分布状态。
检测范围
- 多晶粉末样品
- 单晶样品
- 薄膜涂层样品
- 块状金属样品
- 无机非金属材料
- 高分子聚合物
- 纳米颗粒材料
- 矿物岩石样品
- 精密陶瓷材料
- 半导体外延片
- 多孔催化剂材料
- 锂离子电池正极材料
- 金属腐蚀产物
- 金属氧化物粉末
- 药物活性成分
- 中药材粉末
- 结晶度测定样品
- 微晶尺寸分析样品
- 残余应力测试样品
- 宏观织构分析样品
- 择优取向分析样品
检测标准（部分）
- GB/T 39520-2020 弹簧残余应力的X射线衍射测试方法
- GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
- JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
- GB/T 45597-2025 金属材料 残余应力测定 短波长X射线衍射法
- GB/T 36923-2018 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法
- JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪
- GB/T 45335-2025 凹凸棒石相含量的测定 X射线衍射-标准曲线法
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
- GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
- JC/T 2974-2026 非金属矿物 X 射线衍射分析方法
- GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
- JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
- GA/T 2079-2023 法庭科学 矿物检验 X射线衍射法
- JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则
- YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法
- YS/T 1178-2024 铝灰渣物相分析 X射线衍射法
- GB/T 39860-2021 胶乳制品表面残余矿物粉末的快速鉴别 X-射线衍射法
- GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
- SN/T 4760-2017 进口锌精矿鉴别 X射线衍射法
总结
X射线衍射是解析材料物相组成与晶体结构的核心手段，覆盖粉末、薄膜及块状样品的晶体学参数测定。中析检测中心配备高分辨衍射仪及原位附件，满足多种材料的结构表征需求。常规测试周期通常为7至15个工作日。
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旗下实验室资质
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