检测范围

  • 能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）
  • 波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）
  • 手持式便携式X射线荧光元素分析仪
  • 台式X射线荧光镀层测厚仪
  • 在线X射线荧光成分分析系统
  • 微束X射线荧光显微分析仪
  • 全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
  • 同步辐射X射线荧光分析装置
  • 偏振激发X射线荧光光谱仪
  • 多道X射线荧光光谱仪
  • 单道扫描X射线荧光光谱仪
  • 顺序式X射线荧光光谱仪
  • 同时式X射线荧光光谱仪
  • 工业级合金材料X射线荧光分选仪
  • 矿浆在线X射线荧光品位分析仪
  • 镀锌层X射线荧光测厚设备
  • RoHS合规性筛查X射线荧光分析仪
  • 液体样品X射线荧光元素分析专用仪
  • 粉尘与气溶胶滤膜X射线荧光分析装置
  • 古陶瓷与文物无损X射线荧光分析仪
  • 珠宝玉石鉴定X射线荧光光谱仪

检测标准（部分）

  • GB/T 18043-2013(英文版) 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 48201-2026 能量色散X射线荧光光谱分析方法通则
  • GB/T 36017-2018 无损检测仪器 X射线荧光分析管
  • JB/T 14323-2021 X射线荧光分选机
  • GB/T 16597-2019 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
  • GB/T 34534-2017 焦炭 灰成分含量的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 28020-2011 饰品 有害元素的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 18043-2013e 首饰　贵金属含量的测定　X射线荧光光谱法
  • GB/T 18043-2013 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法
  • JB/T 11145-2011 X射线荧光光谱仪
  • JJF 1952-2021 X射线荧光测硫仪校准规范
  • SY/T 7420-2018 X射线荧光光谱元素录井规范
  • SY/T 7324-2016 X射线荧光录井仪校准方法
  • JY/T 0569-2020 波长色散x射线荧光光谱方法通则
  • NB/T 11828-2025 页岩元素含量X射线荧光光谱分析方法
  • EJ/T 1100-1999 X射线荧光测井仪
  • JJF 1306-2011 X射线荧光镀层测厚仪校准规范
  • JJF 2251-2025 波长色散X射线荧光光谱仪校准规范
  • YY/T 0094-2013 医用诊断X射线透视荧光屏
  • JC/T 1085-2008 水泥用X射线荧光分析仪

检测信息

X射线荧光是一种利用初级X射线照射样品，激发样品元素产生次级X射线荧光，通过对这些荧光波长和能量进行测量与分析，实现物质化学成分定性识别与定量计算的分析技术，广泛应用于冶金、矿产、环境、电子及材料科学等领域。

检测的主要目的在于无损或微损地获取材料的元素组成与含量分布信息，涉及的技术手段包括能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）与波长色散X射线荧光光谱法（WDXRF），能够对固体、粉末、液体等多种形态样品开展快速筛查。

检测流程通常涵盖样品制备或表面处理、仪器校准与基体校正、标准曲线建立、荧光强度测量以及数据回归计算，核心参数涉及特征X射线谱线强度、背景噪音水平、检出限及分析精密度。

常见问题

X射线荧光检测需要多长时间？

通常7-15个工作日，具体周期视样品数量、基体复杂程度及需要测量的元素种类而定，粉末压片法或熔融玻璃片法的前处理耗时较长会相应延长整体周期。

X射线荧光检测费用大概多少？

根据检测项目数量确定，常规成分定性筛查费用较低，若涉及多元素定量分析、痕量元素检测或需要定制基体校正模型与标准曲线，检测费用会随之增加。

X射线荧光分析对样品有什么破坏性吗？

该技术属于无损检测方法，X射线照射不会引起样品化学性质改变，样品测试后仍可保留用于其他测试，但对于液体或松散粉末通常需要预处理制成压片或装入样品杯以获得平整测试面。

X射线荧光检测项目

  • 元素定性分析，用于确认样品中含有的元素种类及谱线归属
  • 元素定量分析，通过强度与浓度关系计算各元素的具体质量百分比
  • 轻元素检测，针对钠、镁、铝、硅等低原子序数元素的灵敏测量
  • 重金属元素筛查，判定铅、汞、镉、铬等有害限用物质是否符合限值
  • 镀层厚度测量，依据荧光强度衰减计算表面涂层或复合层的厚度
  • 镀层成分分析，同时获取多层镀层中每一层的化学组成信息
  • 基体效应校正，评估并消除样品吸收与增强效应对定量结果的干扰
  • 检出限测试，确定仪器能够检测到目标元素的很低浓度界限
  • 分析精密度测试，通过重复测量评估仪器对同一样品多次测定结果的一致性
  • 长期稳定性测试，验证仪器在连续运行期间输出数据的漂移程度
  • 短期稳定性测试，评估仪器在短时间内连续测量的数据波动范围
  • 能量分辨率测试，判定探测器区分相邻元素特征谱线的能力
  • 计数率测试，测量单位时间内仪器采集的有效X射线光子数量
  • 背景强度测试，评估连续谱背景对痕量元素分析灵敏度的限制
  • 重复性测试，验证相同条件下多次测量同一样品结果的再现性
  • 稳定性测试，考察仪器在不同环境温度与湿度条件下的数据可靠性
  • 线性范围测试，确定仪器响应信号与元素浓度成正比的区间
  • 准确性测试，通过测量标准物质判定测定值与标准值之间的误差
  • 痕量元素分析，针对浓度在ppm至ppb级别的微量成分进行定量
  • 面分布分析，通过逐点扫描获取样品表面元素的空间分布图像

总结

X射线荧光是针对物质元素组成与镀层厚度的无损分析检测，覆盖成分定性定量、有害元素筛查及涂层厚度测量等内容。

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