检测信息(部分)
问题1:什么是飞行时间二次离子质谱检测?
回答:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种高灵敏度表面分析技术,通过聚焦离子束轰击样品表面,检测溅射出的二次离子质量与飞行时间关系,实现元素、分子及化学态的表征。
问题2:该检测适用于哪些领域?
回答:TOF-SIMS广泛应用于材料科学、半导体、生物医学、环境监测、能源材料等领域,尤其擅长表面微区成分分析、薄膜界面研究和污染物痕量检测。
问题3:检测需要提供哪些样品信息?
回答:需明确样品类型(固体/粉末/薄膜)、尺寸、导电性、待测区域定位要求及检测目标(元素/有机物/深度分析等),非导电样品需提前镀膜处理。
检测项目(部分)
- 质量分辨率:表征仪器区分相邻质量峰的能力
- 表面灵敏度:检测极薄表面层(1-3 nm)的成分信息
- 深度剖析:纵向成分分布分析
- 元素分布成像:微区元素二维/三维分布
- 分子结构鉴定:有机分子碎片解析
- 同位素比例:同位素丰度测量
- 界面扩散:材料界面元素迁移研究
- 污染源分析:表面污染物定性定量
- 掺杂浓度:半导体掺杂元素含量
- 氧化态分析:金属氧化状态鉴别
- 聚合物降解:高分子材料老化研究
- 离子产率:二次离子生成效率
- 电荷补偿:非导电样品分析能力
- 质量校准:仪器质量标尺精度验证
- 横向分辨率:最小可分析区域尺寸
- 检测限:元素/分子最低检出浓度
- 质量范围:可检测的质量上限
- 谱图库匹配:与标准谱图数据库比对
- 团簇离子分析:多原子离子团研究
- 样品损伤评估:离子束对样品的影响
检测范围(部分)
- 半导体材料
- 生物医学材料
- 高分子聚合物
- 纳米复合材料
- 金属及合金
- 催化剂材料
- 光伏材料
- 电子元器件
- 涂层/镀层材料
- 环境颗粒物
- 药物活性成分
- 考古文物
- 锂电池材料
- 光学薄膜
- 微电子封装材料
- 纳米颗粒
- 功能陶瓷
- 表面改性材料
- 痕量污染物
- 有机无机杂化材料
检测仪器(部分)
- 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS V)
- 液态金属离子枪(Ga+/Bi+)
- 双束溅射离子枪
- 电子中和枪
- 低温样品台
- 三维移动样品架
- 高真空系统(≤10⁻⁹ mbar)
- 反射式飞行时间分析器
- 多通道检测器
- 激光后电离辅助装置
检测标准(部分)
GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
暂无更多检测标准,请联系在线工程师。
检测优势
检测资质(部分)
检测流程
1、中析检测收到客户的检测需求委托。
2、确立检测目标和检测需求
3、所在实验室检测工程师进行报价。
4、客户前期寄样,将样品寄送到相关实验室。
5、工程师对样品进行样品初检、入库以及编号处理。
6、确认检测需求,签定保密协议书,保护客户隐私。
7、成立对应检测小组,为客户安排检测项目及试验。
8、7-15个工作日完成试验,具体日期请依据工程师提供的日期为准。
9、工程师整理检测结果和数据,出具检测报告书。
10、将报告以邮递、传真、电子邮件等方式送至客户手中。
检测优势
1、旗下实验室用于CMA/CNAS/ISO等资质、高新技术企业等多项荣誉证书。
2、检测数据库知识储备大,检测经验丰富。
3、检测周期短,检测费用低。
4、可依据客户需求定制试验计划。
5、检测设备齐全,实验室体系完整
6、检测工程师专业知识过硬,检测经验丰富。
7、可以运用36种语言编写MSDS报告服务。
8、多家实验室分支,支持上门取样或寄样检测服务。
检测实验室(部分)

结语
以上为飞行时间二次离子质谱检测的检测服务介绍,如有其他疑问可联系在线工程师!