检测范围
- 四极杆ICP-MS
- 高分辨ICP-MS
- 多接收器ICP-MS
- 飞行时间ICP-MS
- 三重四极杆ICP-MS
- 单四极杆ICP-MS
- 六极杆碰撞池ICP-MS
- 八极杆碰撞反应池ICP-MS
- 动态反应池ICP-MS
- 碰撞池ICP-MS
- 液相色谱-ICP-MS联用仪
- 气相色谱-ICP-MS联用仪
- 激光剥蚀进样ICP-MS
- 微量进样ICP-MS
- 全自动进样器ICP-MS
- 耐氢氟酸进样系统ICP-MS
- 固相萃取进样ICP-MS
- 同位素比值测定ICP-MS
- 超净实验室专用ICP-MS
- 便携式ICP-MS
- 台式ICP-MS
检测标准（部分）
- AI MS-4 The Asphalt Handbook, 2007 Edition
- NEMA MS 14-2019 Characterization of Radiofrequency (RF) Coil Heating in Magnetic Resonance Imaging Systems
- NEMA MS 5-2018 Determination of Slice Thickness in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
- NEMA MS 12-2016 Quantification and Mapping of Geometric Distortion for Special Applications
- IPC MS-810 Guidelines for High Volume Microsection
- API ICP 570 Study Guide(2023 Exams) Study Guide for API 570 ICP Exam - Piping Inspector Certification Exam (For Exams Held in 2023)
- NEMA MS 10-2010 Determination of Local Specific Absorption Rate (SAR) in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
- NEMA MS 4-2010 Acoustic Noise Measurement Procedure for Diagnostic Magnetic Resonance Imaging Devices
- NEMA MS 8-2016(R2023) Characterization of the Specific Absorption Rate (SAR) for Magnetic Resonance Imaging Systems, Includes Editorial Revisions (2017)
- NEMA MS 2-2008(R2014;R2020) Determination of Two-Dimensional Geometric Distortion in Diagnostic Magnetic Resonance Images
- NEMA MS 1-2008(R2014;R2020) Determination of Signal-to-Noise Ratio (SNR) in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
- NEMA MS 3-2008(R2014;R2020) Determination of Image Uniformity in Diagnostic Magnetic Resonance Images
- NEMA MS 6-2008(R2014;R2020) Determination of Signal-to-Noise Ratio and Image Uniformity for Single-Channel, Non-Volume Coils in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
- NEMA MS 9-2008(R2014;R2020) Characterization of Phased Array Coils for Diagnostic Magnetic Resonance Images
- T/FJASI MS 001-2007 民宿等级
- NEMA MS 12-2010 Quantification and Mapping of Geometric Distortion for Special Applications
- NEMA MS 5-2010 Determination of Slice Thickness in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
- NEMA MS 11-2010 Determination of Gradient-Induced Electric Fields in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
- NEMA MS 8-2008 Characterization of the Specific Absorption Rate (SAR) for Magnetic Resonance Imaging Systems
- NEMA MS 11-2006 Determination of Gradient-Induced Electric Fields in Diagnostic Magnetic Resonance Imaging
ICP-MS检测项目
- 检出限测试：评估仪器在特定基体下能检出的很低元素浓度，判定仪器的灵敏度水平
- 背景等效浓度：通过测量质量数处的背景信号折算出的等效浓度，反映质谱背景干扰程度
- 氧化物产率：监测CeO+/Ce+比值，评估等离子体解离能力及多原子离子干扰水平
- 双电荷离子产率：测定Ba2+/Ba+比值，判断等离子体电离状态及能量分布稳定性
- 稳定性测试：通过连续测定内标信号强度的相对标准偏差，评判仪器长时间运行的精密度
- 短期精密度：连续重复测量同一标准溶液多次的RSD值，反映仪器瞬时测定的重复性
- 长期精密度：间隔较长时间段内重复测量的RSD值，考核仪器整体漂移控制能力
- 同位素比精度：测量同一元素不同同位素比值的相对标准偏差，判定质谱质量歧视效应大小
- 分辨率测试：通过测量相邻质量数峰的峰高与峰宽，判定质谱对相邻质量数离子的分离能力
- 质量轴稳定性：长时间运行下目标质量数漂移情况，确保定性定量的准确性
- 灵敏度测试：测定特定元素单位浓度下的信号计数值，直接反映仪器的传输效率
- 线性范围：考察仪器信号响应与元素浓度成线性的区间跨度，判定适用高低浓度测量的能力
- 内标回收率：监测内标元素在分析过程中的信号变化，用于校正基体效应及信号漂移
- 基体效应评估：考察样品主量元素对痕量目标元素测定的抑制或增强作用程度
- 质谱干扰测试：评估多原子离子、同量异位素等对目标质量数测定造成的重叠干扰程度
- 同位素比值测定：通过测量特定同位素对的丰度比，用于元素来源追踪及同位素稀释法定量
- 半定量扫描：在无特定元素标准品的情况下，利用响应曲线推算样品中多元素的概略浓度
- 同位素稀释法测定：通过加入富集同位素作为内标进行定量，消除基体干扰并提高准确度
- 形态分析联用测试：结合液相色谱分离技术测定同一元素不同化学形态的含量分布
- 微量进样测试：评估在进样量极少条件下仪器的信号稳定性和检出限表现
- 耐基体能力测试：考察在高盐分或高酸度样品直接进样时锥口堵塞及信号衰减情况
常见问题
ICP-MS检测需要多长时间？通常7-15个工作日
常规无机元素全扫及目标元素定量分析周期通常为7-15个工作日，涉及复杂基体消解、同位素比值测定或形态分析联用时，因前处理流程较长，周期可能延长至15-20个工作日。
ICP-MS检测费用大概多少？根据检测项目数量确定
检测费用根据测试元素数量、样品基体复杂程度及前处理难度综合核算，常规水样或溶液单元素测定费用较低，固体样品需增加消解前处理费用，多元素同时扫描具有更高的性价比。
ICP-MS检测对样品有什么要求？
水样及溶液样品需经0.45微米滤膜过滤并酸化保存，固体样品需经过微波消解或湿法灰化转化为澄清透明溶液，样品中总溶解性固体含量一般控制在0.2%以下以避免锥口堵塞。
检测信息
ICP-MS是一种将电感耦合等离子体作为离子源、四极杆质谱仪作为质量分析器进行元素定性定量分析的检测技术，主要用于无机元素及同位素比值的痕量与超痕量测定，广泛应用于环境监测、食品安全、半导体材料、制药工程及冶金地质等领域。
该检测旨在测定样品中从常量到ppq级别的无机元素含量，涉及试样消解、进样雾化、等离子体离子化、质谱分离及检测器信号采集等核心技术手段，以实现多元素同时测定与极低浓度下的精准分析。
核心检测流程包括样品前处理、标准曲线配制、内标校正、质谱数据采集及干扰校正方程应用，关键参数涵盖质量数扫描范围、氧化物产率、双电荷离子比、背景等效浓度及检出限等指标。
总结
ICP-MS是一种用于无机元素及同位素比值痕量分析的电感耦合等离子体质谱检测技术，覆盖仪器灵敏度、检出限、氧化物产率及多元素定量等核心内容。
相关检测
旗下实验室资质
我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可和ISO认证等证书，具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。
