GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

标准信息

标准号：

GB/T 41765-2022

标准名称：

碳化硅单晶位错密度的测试方法

发布日期：

2022-10-14

实施日期：

2023-05-01

批发部门：

国家标准化管理委员会

归口单位：

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位：

北京天科合达半导体股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司

起草人：

彭同华、佘宗静、赵宁、王波、李素青、娄艳芳、王大军、郭钰、杨建

标准简介

本文件规定了碳化硅单晶位错密度的测试方法。

本文件适用于晶面偏离{0001}面、偏向{1120}方向0°~8°的碳化硅单晶位错密度的测试。

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检测优势

检测资质（部分）

检测流程

1、中析检测收到客户的检测需求委托。

2、确立检测目标和检测需求

3、所在实验室检测工程师进行报价。

4、客户前期寄样，将样品寄送到相关实验室。

5、工程师对样品进行样品初检、入库以及编号处理。

6、确认检测需求，签定保密协议书，保护客户隐私。

7、成立对应检测小组，为客户安排检测项目及试验。

8、7-15个工作日完成试验，具体日期请依据工程师提供的日期为准。

9、工程师整理检测结果和数据，出具检测报告书。

10、将报告以邮递、传真、电子邮件等方式送至客户手中。

检测优势

1、旗下实验室用于CMA/CNAS/ISO等资质、高新技术企业等多项荣誉证书。

2、检测数据库知识储备大，检测经验丰富。

3、检测周期短，检测费用低。

4、可依据客户需求定制试验计划。

5、检测设备齐全，实验室体系完整

6、检测工程师专业知识过硬，检测经验丰富。

7、可以运用36种语言编写MSDS报告服务。

8、多家实验室分支，支持上门取样或寄样检测服务。

检测实验室（部分）

结语

以上为GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法的检测服务介绍,如有其他疑问可联系在线工程师！