二次离子质谱仪检测

原创版权 发布时间:2026-08-15 12:47:32     更新时间:2026-08-15 12:47:33     来源:中析研究所材料分析中心         检测咨询量:0位

北京中科光析科学技术研究所检测中心提供半导体硅片、砷化镓晶片、碳化硅材料、氮化镓材料、集成电路芯片、太阳能电池片、LED芯片等22+项二次离子质谱仪检测服务。实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质,可按国标、行标、企标出具检测报告,满足各类项目验收及质量管控需求。

旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO等认证

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检测咨询

检测信息(部分)

二次离子质谱仪是一种用于材料表面分析的精密仪器,通过一次离子束轰击样品表面产生二次离子,利用质谱技术对二次离子进行质量分析,从而获得样品表面的元素组成、分子结构及深度分布信息。

该仪器广泛应用于半导体工业、材料科学、地质学、生物学等领域,可用于薄膜分析、杂质检测、同位素分析、表面污染物识别等多种检测场景。

二次离子质谱仪具有极高的检测灵敏度,可检测ppm甚至ppb级别的杂质元素,同时具备优异的空间分辨率和深度分辨率,能够实现微区分析和三维成分成像。

检测方法(部分)

  • 静态二次离子质谱法
  • 动态二次离子质谱法
  • 飞行时间质谱法
  • 四极杆质谱法
  • 磁扇形质谱法
  • 双聚焦质谱法
  • 深度剖面分析法
  • 二维成像分析法
  • 三维重构分析法
  • 同位素比值测量法
  • 定量校准法

检测范围(部分)

  • 半导体硅片
  • 砷化镓晶片
  • 碳化硅材料
  • 氮化镓材料
  • 集成电路芯片
  • 太阳能电池片
  • LED芯片
  • MEMS器件
  • 金属薄膜
  • 介质薄膜
  • 有机薄膜
  • 磁性材料
  • 陶瓷材料
  • 玻璃材料
  • 高分子材料
  • 复合材料
  • 地质样品
  • 陨石样品
  • 生物组织切片
  • 药物颗粒
  • 电池电极材料
  • 催化剂颗粒

检测标准(部分)

序号 标准号 标准名称 类别 发布日期 CCS分类 ICS分类
1 GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准 (CN-GB)国家标准 2021-05-21 G04基础标准与通用方法 71.040.40化学分析
2 T/ZJKSFIA 0005(第二次修订)-2023 水果酒 (CN-TUANTI)团体标准 2025-07-12 X62发酵酒 67.160.01饮料综合
3 T/ZJKSFIA 0003(第二次修订)-2022 万全甜糯玉米 (CN-TUANTI)团体标准 2022-07-10 C13磺胺、抗结核与其他抗感染药  
4 ISO 13084:2025 Surface chemical analysis — Mass spectrometries — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (IX-ISO)国际标准化组织 2025-10-23   71.040.40化学分析
5 BS ISO 13084:2018 Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (GB-BSI)英国标准学会 2018-11-16    
6 BS 10/30199193 DC BS ISO 13084. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time of flight secondary ion mass spectrometer (GB-BSI)英国标准学会 2010-04-22    
7 ISO 13084:2018 Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (IX-ISO)国际标准化组织 2018-11-15   71.040.40化学分析
8 ISO 13084:2011 Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer (IX-ISO)国际标准化组织 2011-05-05   71.040.40化学分析
9 GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法 (CN-GB)国家标准 2022-12-30 H17半金属及半导体材料分析方法 77.040金属材料试验
10 ISO 17862:2022 Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers (IX-ISO)国际标准化组织 2022-09-23   71.040.40化学分析
11 GB/T 43663-2024 表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性 (CN-GB)国家标准 2024-03-15 G04基础标准与通用方法 71.040.40化学分析
12 GB/T 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法 (CN-GB)国家标准 2020-10-11 H17半金属及半导体材料分析方法 77.040金属材料试验
13 BS ISO 13084:2011 Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer (GB-BSI)英国标准学会 2011-05-31    
14 GB 17051-2025 二次供水设施卫生规范 (CN-GB)国家标准 2025-05-30 C51环境卫生 13.060.20饮用水
15 DB37/T 2393-2013 二次锂离子电池电解液 (CN-DB37)山东省地方标准 2013-09-22 K82化学电源 29.220.99其他电池和蓄电池
16 KS D ISO 17862-2026 표면 화학 분석 — 이차 이온 질량분석법 — 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기에서의 세기 스케일 선형성 (KR-KS)韩国标准 2026-04-03   71.040.40化学分析
17 JJF 2041-2023 互感器二次压降及二次负荷现场测试方法 (CN-JJF)国家计量技术规范 2023-06-30 A55电磁计量 17.220电学、磁学、电和磁的测量
18 DL/T 1517-2016 二次压降及二次负荷现场测试技术规范 (CN-DL)行业标准-电力 2016-01-07 K40输变电设备综合 29.240输电网和配电网
19 ISO 17862:2013 Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers (IX-ISO)国际标准化组织 2013-12-10   71.040.40化学分析
20 SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法 (CN-SJ)行业标准-电子 2015-04-30 H82元素半导体材料 29.045半导体材料

检测仪器(部分)

  • 飞行时间二次离子质谱仪
  • 四极杆二次离子质谱仪
  • 磁扇形二次离子质谱仪
  • 双聚焦二次离子质谱仪
  • 纳米二次离子质谱仪
  • 静态二次离子质谱仪
  • 动态二次离子质谱仪
  • 三重聚焦二次离子质谱仪
  • 离子探针质谱仪
  • 成像二次离子质谱仪
  • 高分辨二次离子质谱仪

检测项目(部分)

  • 元素定性分析——确定样品中存在的元素种类
  • 元素定量分析——测定样品中各元素的含量
  • 同位素比值分析——测量同位素的相对丰度
  • 深度剖析——分析元素随深度的分布变化
  • 表面杂质检测——识别样品表面的微量污染物
  • 薄膜成分分析——测定薄膜材料的元素组成
  • 界面扩散分析——研究元素在界面处的扩散行为
  • 掺杂浓度分布——测量半导体中掺杂元素的深度分布
  • 分子碎片分析——识别有机材料的分子结构信息
  • 二维元素成像——获取元素在样品表面的分布图像
  • 三维成分重构——构建样品三维元素分布图
  • 颗粒物成分分析——分析微小颗粒的元素组成
  • 表面吸附物种检测——识别表面吸附的分子物种
  • 氧化层厚度测量——测定表面氧化层的厚度
  • 界面反应产物分析——识别界面反应生成的化合物
  • 痕量金属检测——检测极低浓度的金属杂质
  • 注 入剖面分析——分析离子注入后的元素分布
  • 多层膜结构分析——表征多层膜的结构和成分
  • 晶界偏析分析——研究元素在晶界处的偏聚
  • 电池材料界面分析——分析电池界面的成分变化
  • 生物样品元素成像——获取生物组织中元素的分布图像
  • 催化剂表面分析——研究催化剂表面的元素状态

总结

二次离子质谱仪作为一种高灵敏度的表面分析设备,在材料表征和质量控制方面发挥着重要作用。通过对样品进行元素分析、深度剖析和成像分析,可以为科研和生产提供可靠的数据支持,帮助用户深入了解材料的微观结构和成分特征。

检测优势

检测资质(部分)

荣誉 荣誉 荣誉 荣誉

检测流程

1、中析检测收到客户的检测需求委托。

2、确立检测目标和检测需求

3、所在实验室检测工程师进行报价。

4、客户前期寄样,将样品寄送到相关实验室。

5、工程师对样品进行样品初检、入库以及编号处理。

6、确认检测需求,签定保密协议书,保护客户隐私。

7、成立对应检测小组,为客户安排检测项目及试验。

8、7-15个工作日完成试验,具体日期请依据工程师提供的日期为准。

9、工程师整理检测结果和数据,出具检测报告书。

10、将报告以邮递、传真、电子邮件等方式送至客户手中。

检测优势

1、旗下实验室用于CMA/CNAS/ISO等资质、高新技术企业等多项荣誉证书。

2、检测数据库知识储备大,检测经验丰富。

3、检测周期短,检测费用低。

4、可依据客户需求定制试验计划。

5、检测设备齐全,实验室体系完整

6、检测工程师专业知识过硬,检测经验丰富。

7、可以运用36种语言编写MSDS报告服务。

8、多家实验室分支,支持上门取样或寄样检测服务。

检测实验室(部分)

二次离子质谱仪检测

结语

以上为二次离子质谱仪检测的检测服务介绍,如有其他疑问可联系在线工程师

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