外延片检测

检测范围（部分）

LED外延片、硅外延片、芯片外延片、氮化镓外延片、半导体外延片、碳化硅外延片、晶圆外延片等。

检测项目（部分）

电阻率、厚度、性能检测、机械性能、导电性能、物理性能等。

其他检测项目，可联系在线工程师！

检测标准（部分）

GB/T 1550-2018非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T 8758-2006砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB/T 12964-2018硅单晶抛光片

GB/T 14015-1992硅-兰宝石外延片

GB/T 14139-2019硅外延片

GB/T 14146-2021硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法

GB/T 14844-2018半导体材料牌号表示方法

GB/T 19921-2018硅抛光片表面颗粒测试方法

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

GB/T 24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T 26066-2010硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

GB/T 30453-2013硅材料原生缺陷图谱

GB/T 30653-2014Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法

GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法

GB/T 30655-2014氮化物LED外延片内量子效率测试方法

GB/T 30854-2014LED发光用氮化镓基外延片

GB/T 30857-2014蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法

GB/T 32279-2015硅片订货单格式输入规范

GB/T 35308-2017太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片

GB/T 35310-2017200mm硅外延片

其他相关检测标准，请咨询在线工程师！

 

检测优势

检测资质（部分）

检测流程

1、收到客户的检测需求委托。

2、确立检测目标和检测需求

3、所在实验室检测工程师进行报价。

4、客户前期寄样，将样品寄送到相关实验室。

5、工程师对样品进行样品初检、入库以及编号处理。

6、确认检测需求，签定保密协议书，保护客户隐私。

7、成立对应检测小组，为客户安排检测项目及试验。

8、7-15个工作日完成试验，具体日期请依据工程师提供的日期为准。

9、工程师整理检测结果和数据，出具检测报告书。

10、将报告以邮递、传真、电子邮件等方式送至客户手中。

检测优势

1、CMA资质、高新技术企业、集体所有制研究所等多项荣誉证书。

2、检测数据库知识储备大，检测经验丰富。

3、检测周期短，检测费用低。

4、可依据客户需求定制试验计划。

5、检测设备齐全，实验室体系完整

6、检测工程师专业知识过硬，检测经验丰富。

7、可以运用36种语言编写MSDS报告服务。

8、多家实验室分支，支持上门取样或寄样检测服务。

检测实验室（部分）

结语

以上为外延片检测的检测服务介绍,如有其他疑问可联系在线工程师！